Описание
Технические характеристики:
1 материал: высокая чистота кремния
2 размера: 2 дюймов
3 диаметр и допуск: 50.8 ± 0.3 мм
4 Толщина: 270um
5 Модель: p type
6 удельность: 0.01-0.02/Ом ∙ см
7 направление: <100>
8 полированных: Односторонний полированный
9. основные приложения: pvd/CVD покрытие подложка, магнетрон спутник, XRD, sem, образец роста атомных сил, инфракрасная спектроскопия, флуоресценция спектроскопической подложкой, подложка, молекулярный луч эпитаксиальный рост полупроводниковый Кристалл x Рэй анализ.







Характеристики
- Габаритные размеры
- diameter * thickness = 50.8mm * 270um
- Номер модели
- Crystal orientation 100/ Model P
- Стандартный
- GB
- Наличие стандарта
- Стандарт
- Материал
- Monocrystalline silicon













